NPZ Innovation bei Digitaler Woche in Kiel

Leon Oehme referierte bei der Digitalen Woche über ein KI-Best Practice-Beispiel aus der Praxis.

Das Thema seines Vortrags lautete: „Durchblick im Saatgut: Qualitätsanalyse mit Computertomographie und Künstlicher Intelligenz“

Im Zuge einer Machbarkeitsstudie wurde untersucht, wie sich große Datenmengen aus der Computertomographie (CT) mithilfe von Künstlicher Intelligenz effizient auswerten lassen. Ziel war es, die Analyseprozesse deutlich zu beschleunigen und eine präzise Identifikation von durch Schädlinge befallenem Saatgut zu ermöglichen.

Die im Projekt entwickelten und getesteten Algorithmen sowie Deep-Learning-Modelle zeigen vielversprechende Ergebnisse: Sie erhöhen die Auswertungsgeschwindigkeit erheblich, erreichen eine hohe Genauigkeit und arbeiten gleichzeitig besonders energieeffizient.

Damit leistet der Einsatz von KI einen konkreten Beitrag zur Optimierung der Pflanzenzüchtung und unterstützt die Entwicklung robusterer und widerstandsfähiger Pflanzensorten.

Wir bedanken uns herzlich bei den Veranstaltern der Digitalen Woche Kiel für die Möglichkeit, Einblicke in dieses innovative Themenfeld zu geben, sowie bei allen Teilnehmenden für den offenen Austausch und die spannenden Diskussionen.

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